简要说明：冲击试样缺口投影仪CST-50

　　功能用途 XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需求和GB/T229-1994≤金属夏比缺口冲击试验方法≥中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U型缺口加工质量的光学仪器。其优点是操作简便、对比直观。该仪器是利用光学投影方法将被检测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。