简要说明：本精工SFT9400 X射线荧光镀层厚度测量仪
　　产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪
　　SFT9000系列中最高级的机型「SFT9400系列」 
　　搭载有75W高功率X射线管与双检测器(半导体检测器+比例计数管)，能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。 
　　此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能

　　产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455技术参数：
　　可测量元素：原子序数22(Ti)～83(Bi) 
　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)  管电压： 50kV 管电流： 1.5mA Be 窗 
滤波器：一次滤波器：Mo 　照射方式：上方垂直照射方式检测器：比例计数管+半导体检测(无需液氮) 准直器：圆形：Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能样品图像对焦方式：激光自动对焦样品观察：彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明 样品平台大小及承重：　　SFT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg FT9450:420mm(W330mm(D) 5kg SFT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg重量：SFT9400/SFT9450:125kg (不含电脑) SFT9455:130kg(不含电脑) 修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正 测量报告书制作：配备MS-EXCEL? & MS-WORD?(使用宏支持自动制作测量报告书) 
　　　　　　　　　测量能谱与样品图像保存功能
　产品特点：★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管）可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
　　　　　　能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
　　　　　　对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量
　　　　　　可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度
　　★ 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
　　　　 对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域
　　★ 适用超微小面积的测量
　　　　 标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。
　　★ 搭载了可3段切换的变焦距光学系统
　　★ 拥有防冲撞功能
　　★ 搭载高精度样品平台，更可测量大型线路
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