| 详细介绍: 规格: 重复性(白板) 0.01RMS△E CIE Lab 仪器台间差   0.08平均值△E CIE Lab,13色砖 照明         脉冲氙(D65校正) 光谱范围     360nm至750nm 波长间隔     10nm 光度范围     0%-200%反射率 光度解析度   0.001% 测量时间     2.5秒 反射/穿透 测量孔径(反射) 大测量孔径(LAV)25毫米 圆形 中测量孔径(MAV)17毫米 圆形 小测量孔径(SAV)10毫米 圆形 极小测量孔径(VSAV)6毫米 圆形 测量孔径(穿透) 大测量孔径(LAV)22毫米 圆形 中测量孔径(MAV)10毫米 圆形 小测量孔径(SAV)10毫米 圆形 极小测量孔径(VSAV)06毫米 圆形 测量孔径(直接穿透) 大测量孔径(LAV)22毫米 圆形 光学设置    三光束 散射/8°,6英寸集成积分球, 2个光谱分析仪,全像摄影 23厘米宽×25厘米高×47厘米长 操作温度 摄氏10°-35° 操作相对温度 20%-80%(非冷凝环境) 供电要求  100伏交流电/50-60赫  240伏交流电/50-60赫 连线接口RS232/USB接口 特别功能:SCE/SCI同步测量,自动UV与镜头控制,数据信号,内置Netprofile功能,水平与垂直测量方向 苏州方特电子科技有限公司提供 |