简要说明：WP1型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的仪器。广泛地应用于教学、地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析。

　　仪器特点
　　•光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，慧差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀。
　　•仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。
　　•仪器缝前的哈特曼光栏及三阶，九阶减光板。
　　•使用控制箱控制谱过程。
　　•仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。
　　•仪器配置工作台，安装和操作方便。
仪器技术规格：
　　•工作波段：200nm-800nm
　　•仪器焦距：f=1050mm
　　•谱板尺寸：240*90mm
　　•相对孔径：D/f=1:25
　　•狭缝指标：变化范围 0.003-0.3mm ，手轮格值 0.001mm
　　•外形尺寸（包括导轨）：1350*1230.420(mm)
　　•主机重量：80kg