简要说明：X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪X射线由环达检测仪器专业供应，欢迎大家来电订购！

　　X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪产品介绍： 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪的手动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。

X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪产品特点：
标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；
简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单；
单准直器及多准直器可选，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。
完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了完美的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。

X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪执行标准： 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪产品执行标准：DIN50987、ISO3497、ASTN.D568

X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪技术参数：


X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪主要规格  
测定原理 
 X射线荧光分析法
 
测定方法 
 能量色散型 
 
测定对象 
 固体、液体、粉状 
 
测量精度 
 0.01μm
 
测量功能 
 单镀层、双合金镀层、多镀层测厚、最多可测6层；元素分析、镀液分析。
 
测量误差 
 测厚：第一层5%，第二层：小于10%，第层小于15%
 
元素分析测量范围 
 可测元素K19-U92，
 
测试时间 
 测厚：10-60s，元素分析：60-300s
 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪X射线发生部分 
 
X射线管产地品牌
 美国原装进口，厂商：OXFORD
 
X射线管靶材
 W靶
 
电压 
 50W、4-50kV，
 
电流 
 0-1000μA
 
冷确方式 
 电制冷（风扇制冷） 
 
滤光器 
 二次滤光 
 
X射线照射方式
 ↓X射线从上向下照
 
照射面积 
 最小的光斑φ0.2