详细资料:  AEL/TEP系列电子密度分析天平      系密度称量两用电子分析天平,它采用精密电子分析天平利用阿基米德定律,可对任何形状不规则的固体物质同时进行重量和比重的分析测量,适用于工矿企业,科研机构,大专院校实验室作质量比重的测量与分析。 AEL-200A 最大称量:200g 分度值:0.1mg 重复性:0.1mg 线性:±0.2mg 称盘尺寸:φ40/φ90mm 液合尺寸:120×120×70mm 防风罩有效高度:210mm 外型尺寸:220×400×360mm TEP-500 最大称量:500g 分度值:10mg 重复性:10mg 线性:±15mg 称盘尺寸:φ40/φ80mm 液合尺寸:120×120×70mm 防风罩有效高度:200mm 外型尺寸:185×300×320mm TEP-300 最大称量:300g 分度值:1mg 重复性:1mg 线性:±1.5mg 称盘尺寸:φ40/φ80mm 液合尺寸:120×120×70mm 防风罩有效高度:200mm 外型尺寸:185×300×320mm TEP-200 最大称量:200g 分度值:1mg 重复性:1mg 线性:±1.5mg 称盘尺寸:φ40/φ80mm 液合尺寸:120×120×70mm 防风罩有效高度:200mm 外型尺寸:185×300×320mm TEP-30 最大称量:30g/300g 分度值:1mg/10mg 重复性:1mg/10mg 线性:±1.5mg/±15mg 称盘尺寸:φ40/φ80mm 液合尺寸:120×120×70mm 防风罩有效高度:200mm 外型尺寸:185×300×320mm 
|