技术指标: 
分 析 范 围: 1PPM-99.99%  同 时 分 析: 几十种元素同时分析  测镀层厚度精确至0.01微米  测 量 对 象: 固体、粉未、液体  测 量 时 间: 60-300 秒  测 量 精 度 : 0.05%  分 析 元 素: Na-U  工 作 温 度: 15-26℃  相 对 湿 度: ≤70%  重 量 : 80KG  功 耗: 200瓦 
仪 器 配 置: 
单样品腔  计算机、喷墨打印机  真空泵(可选)  压片机(可选)  硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管  
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