ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻 ST-21型方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
◆ 特点: 
1  采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;  2  以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;  3  采用单个电池供电,带电池欠压指示;  4  体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;  5  特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜      6  探头带抗静电模块 
◆ 技术指标:
测量范围  按方块电阻量值大小分为二个量程档:   1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;   2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;  恒流源  测量过程误差:≤±0.8%  模数转换器  量程:0~199.99mv;  分辨率:10μv;  方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;  测量不确定度  在整个量程范围内,测量不确定度≤5%  四探针探头规格  间距:1mm或3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ  电源  9V叠层电池1节 
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