mjld型吸收率和法向发射率测量装置
 
 

产品介绍
  

       mjld型吸收率和法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体，配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由北京南奇星科技发展有限公司和航天著名专家那研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创，填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。
 
 

产品技术指标
  

      法向发射率

测量范围：0.05～0.99；

工作温度范围：-30～80℃；

测量不确定度：当εn>0.7  为±1.5%；  当εn<0.2  为±5%；其余为2%；

探测器：平面热电堆 ；

峰值波长：8.4～11μm；

吸收率

测量范围：0.02～0.99；

工作温度范围：-30～80℃；

测量不确定度：当αs>0.8  为±2.0%；  当εn<0.2  为±4%；其余为2.5%；

积分球直径：Φ150；

光源高色温：220V300W；

探测器：真空平面热电堆；

工作波长：0.35～2.5μm；
 
 

用  途
  

      测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。