OSP薄膜厚度测量仪,专用于测量PCB/PW板的铜铂表面的OSP厚度。作为使用分光反射法的非破坏性光学测量仪，它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料，使得实时检测无需任何的样品制备。
  由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能，适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度测量技术，而它在半导体，平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性得到了证实。ST4080-OSP使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。
  ST4080-OSP 无需样品制备，可确保快速和简便操作。
  ST4080-OSP测量的光斑尺寸可减小到0.135，这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度. 
  ST4080-OSP 与紫外可见分光计，受迫离子束方法，时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较，它基于更可靠的测量技术。
  ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。
  ST4080-OSP可提供各点和它们的平均厚度的详细数据，这样可帮助人们更好地控制OSP质量。
  ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序最优化。
 在电路行业，有机可焊性保护膜（OSP）涂层的使用对保护铜表面防止氧化是必需的。
关于RoHS指令，该保护膜涂层要求无铅适用，易加工和低成本。它的标准厚度测量范围是0.1~0.5μm。
ST4080-OSP 通过分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之间的光谱干涉来测量薄膜厚度。ST4080-OSP 同时测量多个光斑，并以轮廓形式显示厚度测量结果。
ST4080-OSP有两种光学透镜。用户可使用5倍的光学透镜方便地进入详细模式的自选区域，再通过使用50倍的光学透镜获取详细厚度轮廓。

波长范围  420nm ~ 640nm  
厚度测量范围  350 ~ 3 
最小光斑尺寸  1.35, 0.135 
目标面积  864X648 / 86.4X64.8 
物镜转动架  5X（spot size 20）, 50X（spot size 0.2）  
测量层  1  
固定样台面积  270mm（L） X 240mm（D）  
Z轴再现性  ± 1 
自动Z装置  Z direction Head Movement
联系人：王明  13480994926 QQ 17084971  0755-23493352/53  深圳市宝安区宝安大道盐田商务广场A座421室