产品说明、技术参数及配置
配备真空腔和高性能真空泵，全自动真空控制系统，使真空测试过程更加智能化    镀层厚度测量精确至0.005微米分析低含量的轻元素时，使用真空泵设备将空气抽出，使内部在真空状态下进行对轻元素的分析
技术指标※. 测量元素:从钠至铀等 75 种元素※. 测量对象:粉末、固体、液体  ※. RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限最高达1ppm※. 测量时间: 60-200s※. 能量分辨率为： 140±5eV(德国产SDD探测器)※. 测量精度: < 0.05%※. 管压：5-50kV※. 管流：50-1000uA※. 温度适应范围： 15-30℃※. 相对湿度：≤70％※. 仪器功率：≤200W※. 工作电压:AC 110V/220V※. 三维自由超大样品腔设计，样品腔尺寸Φ320×180mm※. 一次可同时分析24个元素※. 重量：75kg
配置X光管（美国牛津光管）放大电路高低压电源双激光定位系统对被测样品可以放大100倍清晰观测检测部位计算机、喷墨打印机硅针半导体探测器高清晰摄像头，独特的光路增强系统专用软件，操作界面十分友好
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上 (天瑞专利）