X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪产品介绍： 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪的手动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。

X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪产品特点：
标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；
简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单；
单准直器及多准直器可选，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。
完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了完美的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。

X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪执行标准： 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪产品执行标准：DIN50987、ISO3497、ASTN.D568

X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪技术参数：


X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪主要规格  
测定原理 
 X射线荧光分析法
 
测定方法 
 能量色散型 
 
测定对象 
 固体、液体、粉状 
 
测量精度 
 0.01μm
 
测量功能 
 单镀层、双合金镀层、多镀层测厚、最多可测6层；元素分析、镀液分析。
 
测量误差 
 测厚：第一层5%，第二层：小于10%，第层小于15%
 
元素分析测量范围 
 可测元素K19-U92，
 
测试时间 
 测厚：10-60s，元素分析：60-300s
 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪X射线发生部分 
 
X射线管产地品牌
 美国原装进口，厂商：OXFORD
 
X射线管靶材
 W靶
 
电压 
 50W、4-50kV，
 
电流 
 0-1000μA
 
冷确方式 
 电制冷（风扇制冷） 
 
滤光器 
 二次滤光 
 
X射线照射方式
 ↓X射线从上向下照
 
照射面积 
 最小的光斑φ0.2
 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪探测器 
 
探测器 
 正比计数探测器，品牌：AMPTEK
 
高压电源 
 不同的设定以实现应用程式的最优化，品牌：SPELLMAN
 
准直器系统 
 单一准直器φ0.2mm、
 
对焦系统 
 镭射对焦 
 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪样品室 
 
样品室内部空间（mm）
 （宽×高×深）：450×160×400mm
 
样品室可用空间（mm） 
 （宽×高×深）：450×150×400mm 
 
样品台尺寸 
 （宽×深）：250×275mm
 
样品台承载重量 
 ≤2kg
 
试验样品最大尺寸 
 宽×高×深：440×150×390mm。
 
样品台控制方式 
 手动样品台 
 
工作台移动技术数据 
 Z移动数据为：180mm
 
样品观察系统 
 CCD摄像头，20倍光学变焦。
 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪数据处理系统 
 
控制计算机 
 联想品牌机M3300C，512MB内存，80G硬盘
 
显示器 
 联想17寸LCD显示器
 
打印机 
 HP2468彩色喷墨打印机
 
报告结果 
 自动生成，word、PDF格式
 
UPS电源
 一套 
 
软件 
 操作系统：WindowsXP、OEM简体中文版
镀层测厚软件、元素分析软件、镀液分析软件 
 
软件语言 
 简体中文、繁体中文、英文、其它 
 
X射线荧光测厚仪/X射线荧光光谱仪/X射线荧光膜厚仪环境设置 
 
设备主体尺寸（mm） 
 （W×H×D）：560×625×695mm 
 
主体重量 
 约80kg
 
工作温湿度 
 10-300C，40-70%RH
 
电源系统 
 220V±20%，Max：150W。