塑料薄膜和纸张测厚仪MX-1100
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美国Oakland公司生产的多功能自动薄膜和纸张测厚仪MX-1100，既可单独使用，也可以和电脑连接。可选配质量控制软件（Quality Control Software），以用于测量结果的分析和统计。

仪器特性：

■操作简单 三种操作模式：手动，数字和软件。可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
■提供离散点测量和厚度轮廓测量 测头可自动升降。
■丰富的扩展功能 可外接打印机，电脑和专业软件。
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塑料薄膜和纸张测厚仪MX-1100技术参数和规格
详细参数 
可测样品 所有的薄膜和薄片材料 
测量范围 0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时，请指定um或mm显示  
行程（探头缩回高度） 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil时； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil时。  
精度 +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm 
平行度 +/-1.0um或更好 
测头尺寸 直径4.3mm（薄膜）
直径15.9mm（纸张） 
或针对其他材料的其他尺寸  
测头压力 4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm²），薄膜
7.3psi（0.513kg/cm²），纸张 
或针对其他材料的其他设置  
循环速率 20/分钟（40/分钟，可选），薄膜
20/分钟（12/分钟，可选），纸张 
或针对其他材料的其他设置  
下落速率 1mm/sec，纸张 
仪器尺寸（宽x长x高） 25 x 25 x 28 cm 
标准配置 主机，标准厚度片，脚踏开关 
选配件 打印机，质量控制软件（Quality Control Software） 
符合标准 ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370