美国Oakland公司生产的薄膜测厚仪CX-1000基于电容法则，使用被测样品作为不导电介质。当被测样品被传送通过传感器时，仪器能测出细微的厚度变化并记录下来，兼具良好的精度和重复性。 

优点一览：

■卓越的稳定性 拥有专利技术的传感器和电子设计能降低温度和湿度波动导致的测量值漂移。
■良好的精度和重复性 优秀的机械和电子设计确保了仪器的精度。
■简单易用 直观的键盘和数字显示，减少了误操作的可能。
■丰富的扩展功能 可选配图表记录仪，打印机，电脑和专门的软件以对测量结果进行打印，统计和图表分析。 

仪器特性：

■可选择功能扩展
■直观的键盘式数据输入和数字显示
■校准简单
■英制或公制显示
■可设置参数包括厚度单位，传送速度，长度单位和目标
■数据存储和恢复校准/参数设置功能
■可显示平均厚度，标准方差，高/低测量值和位置，测量范围和样品长度
■客户定制的测试报告
■可调样品传送速度
■可设置参数包括防止折皱，上/下限和重要参数显示
■可显示百分比/偏差/百分比-偏差，用以表示高/低测量值/范围/平均值与目标值的比较
■模拟输出端口，用于连接图表记录仪
■并口输出，用于连接打印机
■RS-232端口，用于连接电脑 


薄膜测厚仪CX-1000技术参数和规格
详细参数 
可测样品 非金属塑料薄膜 
测量范围 0-300um，其他量程可选 
精度 +-0.5%材料厚度  
重复性 +-0.5%材料厚度 
分辨率 .001mil 或0.1%材料厚度 
温度稳定性 0.1%，每摄氏度 
 
电源 230V，50HZ 
重量 21Kg 
标准配置 主机，SQC软件 
仪器尺寸（宽x长x高） 21cm x 51 x 51cm 
可选配件 质量控制软件Quality Control Software 6针串口线缆 自动校准配件（含过程控制软件）Model CX-1025 平行调整砧台 带侧翼的砧盘