类型 电子天平仪器 型号 PL 
品牌 梅特勒-托利多 mettler-toledo     


2005年，梅特勒-托利多在普及型天平（AL,PL,PL-S）基础上全新推出了具有更高性价比、采用自动内置砝码校准技术的提高型天平（AL-IC,PL-IC),进一步完善了经典系列产品结构，为客户提供更多，更灵活的选择。

经典系列提高型和普及型天平采用全新的电子线路，配合高速32位中央处理器（CPU）和专用ASIC芯片，快速获得准确称量结果；同时内置多种保护盒自适应功能，满足多种环境条件下的称量要求；此外，良好的耐腐蚀、抗冲击高级ABS工程塑料，确保天平结构的轻便、坚固；流线型的外形设计，清晰的液晶显示屏和按键设计、强大的内置应用程序，帮助客户实现简单准确的称量操作。

经典系列天平与梅特勒-托利多其他高端产品一样，凝聚了梅特勒-托利多专业产品设计开发人员和生产人员的努力和智慧，进过精心设计和生产，通过了一系列严格的产品测试，包括：防静电测试（ESD）、电磁兼容测试（EMC）、气流影响测试以及秤盘和案件的可靠性测试等从而确保为广大客户提供准确、可靠地天平。

产品性能：

自动校准，使用内部或外部砝码（视型号而定），自动进行校准

动态温度补偿，即时修正环境温度波动对称量结果的影响

四级数字滤波和补偿，优化天平在不同称量条件下的操作性能

自动零点跟踪

全自动故障诊断和提示显示

过载保护，延长天平的使用寿命

下称勾保护，满足客户特殊应用称量需求

塑料保护罩，避免散落样品对天平表面的腐蚀

可选直流、交流及可充电电源

内置RS232通讯接口，方便连接打印机和电脑等外围设备

丰富的内置应用程序：简单称量、百分比称量、计件称量、动态称量、检重称量、自由因子称量及17种称量单位转换。

可读性
 最大称量值
 型号
 校准
 重复性误差
 线性误差
 秤盘尺寸
 防风罩有效高度
 
0.1mg
 110g
 AL104
 外校
 0.1mg
 ±0.2mg
 Ø90mm    220mm
 
210g
 AL204
 外校
 0.1mg
 ±0.3mg
 
0.001g
 210g
 PL203
 外校
 0.001mg
 ±0.002g
 Ø100mm     140mm
 
310g
 PL303
 外校
 0.001mg
 ±0.002g
 
410g
 PL403
 外校
 0.001mg
 ±0.002g
 
0.01g
 2100g
 PL2002
 外校
 0.01g
 ±0.02g
 Ø180mm        --
 
3100g
 PL3002
 外校
 0.01g
 ±0.03g
 
4100g
 PL4002
 外校
 0.01g
 ±0.03g
 
0.1g
 4100g
 PL4001
 外校
 0.1g
 ±0.1g
 Ø180mm       --