电镀层测厚仪,镀层测厚仪,镍层测厚仪,元素分析仪,X射线荧光测厚仪
CMI900(X荧光镀层测厚仪) CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪,应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 涂镀层厚度测量和/或成分分析,元素范围 Ti - U  可同时进行多达15层元素成分分析  测量方法符合ISO 3497,ASTM B568和DIN 50987
应用: 多镀层金属厚度测量  合金鉴定及化学分析  电镀液分析  金成色分析
特点: 标准50瓦微焦X射线管 X荧光/磁感/涡流测厚仪,灵活运用多种分析模型同时分析元素含量和镀层厚度,实现涂镀层厚度的精确测试或组成分析    计数率增加,精度提高  可升级75瓦光管 多准直器  计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡 镭射聚焦  改善系统再现性(消除人为干扰) 标准FP软件包  综合应用模式  简单校准 开槽式设计样品台,自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标  提供中文等7种语言界面
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